Le microscope à effet tunnel

Le microscope à effet tunnel, mis au point par les laboratoires d’IBM à Zurich en 1981, utilise une pointe très effilée constituée de seulement quelques atomes qui va survoler la surface d’un échantillon à la distance d’un nanomètre. Cette technique, disponible au laboratoire de surfaces à SOLEIL, s’avère être un outil complémentaire aux techniques synchrotron par l’étude de la matière au niveau atomique.

The scanning tunnelling microscope (developed by IBM laboratories in Zurich in 1981), uses a very sharp tip consisting of only a few atoms which hovers over the surface of a sample at a distance of one nanometre. This technique, which is available at SOLEIL’s surfaces laboratory, is a tool that complements synchrotron techniques by facilitating the study of matter at the atomic level.